O checklist de PCB original não tem uma coluna “Aplica-se a”. Aplique cada verificação apenas quando a variante e o circuito escolhidos incluírem o pino, a alimentação ou a função indicada; marque as funções ausentes como não aplicáveis. Mantenha as categorias Obrigatório/Opcional da fonte, mas não interprete Opcional como autorização para omitir um componente exigido pela especificação do dispositivo.
Tratamento do cobre sob o cristal na fonte
O item 3 de clock do checklist não especifica quais camadas devem ter uma área sem cobre. A nota de aplicação das variantes alimentadas por bateria se contradiz: a seção de clock pede remover o plano GND da L2 sob o cristal, enquanto a seção de roteamento de PCB proíbe vazios nos planos e recortes de cobre na camada superior e nas adjacentes, e mostra GND contínuo na L2. O guia separado de layout de PCB repete essa proibição. Confirme com a SiFli o tratamento do empilhamento escolhido antes de liberar o projeto; não o deduza apenas do texto do checklist.
Verificação da largura das trilhas
A planilha especifica VCC ≥12 mil, trilhas BUCK ≥10 mil e RF ≥10 mil. A Seção 6 traz orientações mais restritivas para VCC e BUCK e recomenda RF >10 mil. Atenda aos dois conjuntos de requisitos aplicáveis, incluindo a impedância RF de 50 Ω; o mínimo do checklist não substitui as orientações detalhadas de layout.
O tratamento do cobre na área do cristal está confirmado com a SiFli para o empilhamento escolhido; consulte a nota acima sobre divergência entre fontes
Obrigatório
4
A distância entre a borda de cada trilha do cristal e o cobre GND adjacente é superior a 1,5× a largura da trilha
Obrigatório
5
Espaçamento ≥0,15 mm entre as trilhas XI/XO paralelas do cristal de 32,768 kHz
A posição dos pontos de teste permite o contato da ponta de prova ou a soldagem em um gabarito de teste
Obrigatório
2
Os pontos de teste para download/programação (VBAT, GND, PA18/DBG_UART_RXD, PA19/DBG_UART_TXD, LDO2_OUT, PA0, PA1, PA34 etc.) atendem aos requisitos de tamanho e posicionamento do gabarito de teste