运行 SiFli-SDK 射频测试¶

SDK 将蓝牙（Bluetooth）射频验证分为信令、非信令和单项射频测试。加载测试固件前，先根据测试目标选择正确路径。

表：射频测试内容的系列适用范围

内容	系列适用范围
测试模式对比和测量流程	合并 SF32LB52x、SF32LB55x、SF32LB56x、SF32LB57x 和 SF32LB58x 的通用流程。
经典蓝牙测试支持情况	仅适用于支持经典蓝牙的目标型号。SF32LB55x 仅支持 BLE，不支持经典蓝牙测试流程；该系列应使用 BLE 测试路径。
SF32LB57x 的测试工具支持范围	射频测试指南列出了 SF32LB57x 的 UART 引脚，但 SiFli_RfTool 使用手册的平台选择列表中没有 57x。这里只能据此确认引脚映射；使用前应核实目标 SDK 版本支持的测试路径。
拓扑截图和 HCI 命令表	思澈科技（SiFli）SF32LB52x 射频测试指南中的示例；实现时应以目标系列的命令和引脚文档为准。
`CONFIG_BT_RF_TEST` 配置	适用于文档所述的非 55x 路径；SF32LB55x 的 `bt_rftest` 不使用该符号。
UART 引脚、数据包取值和命令语法	取决于目标系列和 SDK 版本；应检查工程配置并运行 `bt_rftest help`。

官方指南中的 SF32LB58x UART1 引脚映射存在冲突

通用 RF Test Guide 将 UART1 TX/RX 列为 PA31/PA32，而 Bluetooth Individual RF Test Guide 列为 PA32/PA31。接线前请确认目标固件采用的测试路径和板级 pinmux；两份指南给出的映射并不一致。

选择测试模式¶

表：蓝牙与射频测试模式选择

模式	用途	SDK 入口	控制路径
BT 信令	BQB/QDID 资格测试和符合协议的性能测试	`bt_cm dut`、`gap_enb_dut_mode_req()`	综测仪空口和 LMP 测试控制
BT 非信令	研发射频调试和产线筛查	`bt_rftest`、`bt_enter_no_signal_dut_mode()`	本地厂商专用 HCI
BLE 非信令（SIG DTM）	BLE 射频筛查和 SIG DTM 项目	`bt_rftest bletx/blerx`、`ble_enter_dut_mode()`	本地 HCI，或由 `bt_cm uart_dut` 透传的标准 HCI
单项射频测试	板级射频调试和 FCC/CE 预测试	`bt_cm uart_dut` + `SiFli_RfTool`	PC 工具逐项发送底层操作

信令测试建立真实蓝牙链路，是资格测试路径；非信令测试直接让射频保持在固定信道、功率和收发状态，是研发/产线常用路径；单项射频测试通过 PC 工具精确控制载波或调制，并配合频谱仪、功率计。BT 非信令测试和单项射频测试是思澈科技（SiFli）定义的厂商专用流程，不属于 BQB。

下列拓扑图取自思澈科技（SiFli）的 SF32LB52x 射频测试指南，展示了 PC、被测设备（DUT）、综测仪以及 UART/HCI/RF 连接之间的差异；其他系列的默认串口和管脚仍应以对应系列的资料为准。

BT 信令测试拓扑

图：思澈科技（SiFli）指南中的 SF32LB52x 示例——BT 信令：PC 配置综测仪，DUT 与综测仪通过 RF 建立链路。

BT 非信令测试拓扑

图：思澈科技（SiFli）指南中的 SF32LB52x 示例——BT 非信令：PC 通过串口/HCI 直接控制 DUT 的 RF 状态。

BLE 信令测试拓扑

图：思澈科技（SiFli）指南中的 SF32LB52x 示例——BLE DTM：UART/HCI 控制通道和 RF 测量通道同时连接到综测仪。

选择固件并配置工程¶

rf_test.bin 是思澈科技（SiFli）内部用于射频测试的固件构建产物，不作为常规 SDK 发布产物。User.bin 是用户基于 SDK 编译的应用固件；协议栈已集成射频测试功能，可通过 bt_cm dut、bt_cm uart_dut 和 bt_rftest 等 FinSH 命令进入测试模式。

用户工程可启用：

CONFIG_RT_USING_FINSH=y
CONFIG_BSP_BT_CONNECTION_MANAGER=y
CONFIG_BT_RF_TEST=y

SF32LB55x 的 bt_rftest 路径不使用 CONFIG_BT_RF_TEST；CONFIG_BT_FINSH 只用于跟踪，不是测试命令的必选项。控制路径使用 SDK 自带 IPC UART 时，可按开发板配置 CONFIG_IPC_USE_OWN_DEVICE=y 和 CONFIG_IPC_OWN_DEVICE_NAME="uart2"。可参考 example/bt/spp/ 与 example/bt/HCI_over_uart/。

BT 信令测试¶

从 DUT 引出 VBAT、GND 以及 UART1 TX/RX。UART1 默认引脚因封装而异，始终以工程中的引脚配置为准。
BLE 信令：将 UART1 接到 PC，发送 bt_cm uart_dut，确认收到 04 0E 04 XX 03 0C 00，再把 UART 切换到综测仪。
BT 信令：保持 DUT 唤醒，发送 bt_cm dut，确认 Write scan enable success，并将 RF 同轴线接到综测仪。
综测仪选择 Bluetooth Signaling。BLE 的 EUT Control 使用 USB 转 RS232、波特率 1,000,000；BT 选择 None (EUT Control off)，通过空口搜索 DUT。
TX 使用 Bluetooth 1 Multi Eval.，RX 使用 Bluetooth 1 RX Meas.。经典蓝牙（Classic BT）使用 BER，BLE 使用 PER；逐步降低综测仪 TX 电平以确定灵敏度。

BT/BLE 非信令命令¶

启用射频测试路径后，在 FinSH 中执行：

bt_rftest enter
bt_rftest bttx <channel> <packet_type> <power> <length>
bt_rftest btrx <channel> <packet_type> <power>
bt_rftest btstop
bt_rftest exit

具体参数顺序和数据包取值随 SDK 版本变化，应以目标 SDK 中 bt_rftest help 的输出为准。RX 收包统计可用于评估接收情况；TX 命令显示的包数不代表接收端收到的数据包数。BLE DTM 可使用 bt_rftest bletx/blerx，或标准 HCI LE_Transmitter_Test、LE_Receiver_Test v2、LE_Test_End。BLE 信道为 0–39，PHY 为 1M/2M/Coded；经典蓝牙信道为 0–78。对于同时支持 BT 和 BLE 的双模芯片型号，两者共用射频硬件，应分开测试。

使用 SiFli_RfTool 进行单项射频测试¶

将 DUT 的 UART1 以 1,000,000 波特率连接到 PC，再用同轴线将 RF 端口连接到综测仪、频谱仪或功率计。

发送 bt_cm uart_dut，确认收到 04 0E 04 XX 03 0C 00。然后在 SiFli_RfTool.exe 中选择芯片系列、BLE 或 BT 非信令模式以及 COM 端口。

修改信道、PHY、数据包类型或功率前，先停止 TX/RX。进行 BLE RX 测试时，可由综测仪发送 1,500 个数据包；按 PER = (1500 - received) / 1500 × 100% 计算 PER，并记录 RSSI。

进行经典蓝牙 RX 测试时，使用 CMW500 GPRF 波形，并记录 RSSI、包/比特错误数和 BER/PER。补偿线缆损耗，并标明测量结果属于传导测试还是辐射测试。

记录测试结果¶

思澈科技（SiFli）的指南还提供了完整的 HCI 命令/返回值对照表。遇到“命令已发出但 DUT 没有进入预期状态”时，可用它排查问题；不要把表中的所有测试向量都当成通用 API，具体命令要与目标 SDK 和芯片系列匹配。

表：SF32LB52x 命令矩阵中的接收测试信道和中心频率示例

测试模式	信道	中心频率
BR/EDR	0 / 39 / 78	2402 / 2441 / 2480 MHz
BLE	0 / 19 / 39	2402 / 2440 / 2480 MHz

源矩阵要求 RX 测试失败后重试前发送 HCI_Reset（01,03,0C,00）。上述命令和信道仅为 SF32LB52x 源资料中的示例；请针对目标 SDK 和芯片系列核对实际命令序列。

SF32LB52x HCI 射频测试命令表

图：思澈科技（SiFli）指南中的 SF32LB52x 示例——HCI 命令、返回值和 RF 测试项对照表。

每次结果都记录芯片系列、SDK 版本、固件标识、UART 引脚、RF 路径、线缆损耗、仪器型号和配置、信道、PHY/数据包类型、功率设置、RX 计数、RSSI、BER/PER 以及板卡版本。详细的原始指南见：SF32LB52x、SF32LB55x（其 UART 表也列出了 SF32LB57x）、SF32LB56x 和 SF32LB58x。

最后更新: 2026-10-21