Radiation Monitor 휴대용 신호 세기 감지기¶

Radiation Monitor란 무엇인가?¶

SiFliSparks/RadiationMonitor는 SF32LB52와 SiFli-SDK 기반으로 만든 휴대용 Bluetooth 대역 신호 세기 뷰어입니다. 펌웨어는 2402~2480 MHz의 79개 주파수 포인트를 순차적으로 이동하며, 수신 세기 값을 LVGL 막대 차트로 표시합니다. KEY2로 스캔을 시작 또는 중지하고 저장된 이력을 탐색합니다.

이 프로젝트는 Bluetooth 대역 스캔 경로, 실시간 데이터 처리, 주파수 시각화, 버튼 하나로 조작하는 흐름을 살펴보는 데 유용합니다. 보정된 스펙트럼 분석기가 아니며 수신된 신호의 발생원을 식별하지도 않습니다. 주변의 2.4 GHz 송신과 측정 조건이 차트에 영향을 줄 수 있습니다. 보정과 제어된 비교가 없으면, 이 값은 규제, 인증, 정밀 RF 측정에 적합하지 않습니다.

왜 SF32 구현인가?¶

SF32LB52는 듀얼 모드 Bluetooth 5.3, 듀얼 코어 MCU, 디스플레이 기능을 결합하고 있습니다. 이 프로젝트는 SiFli-SDK와 LVGL을 사용하여 주파수 샘플링, 평활화, 이력 버퍼링, 화면 갱신을 모두 디바이스에서 처리합니다. 따라서 이 레퍼런스는 RF 시각화 패널, 현장 간섭 표시기, 양산 진단 UI를 위한 초기 실험으로 유용합니다.

저장소에는 보정 절차, 불확도 예산, 추적 가능한 측정 조건이 명시되어 있지 않습니다. 그러므로 결과는 정확한 실리콘, SDK 및 펌웨어 리비전, 보드, 안테나, 인클로저, 보드 노이즈, 타이밍을 기준으로 다시 검증해야 합니다. 이 방식을 다른 SF32LB52 보드나 제품 PCB로 옮기려면 검증을 새로 해야 하며, 컴파일에 성공했다고 해서 측정이 동등하다는 것이 입증되지는 않습니다.

목표, 범위, 시작 조건¶

목표: 버전이 고정된 SF32LB52 하드웨어에서 79포인트 차트를 재현하고, 시작/중지가 반복 가능함을 확인하고, 고정된 소스를 기준으로 실제 평활화 알고리즘과 깊이를 확정하고, 문서화된 10개 레코드 이력과 복구를 테스트한 다음, 보정이나 커스텀 하드웨어에 투자할 가치가 있는지 판단하기에 충분한 증거를 수집합니다.

이 페이지는 RSSI 막대 높이를 듀티 사이클, 처리량, 송신기 출력, 프로토콜 식별, 규제 대상 스펙트럼 전력으로 해석하지 않습니다. 또한 저장소가 완전한 양산 설계, 보정 방법, 명시적인 소프트웨어 라이선스를 제공한다고 주장하지도 않습니다.

시작하기 전에 다음을 준비하십시오.

• SF32LB52 디스플레이 보드. 프로젝트 README에는 SF32LB52x와 build_sf32lb52-lchspi-ulp_hcpu 출력 디렉터리가 명시되어 있고, SiFli의 지원 보드 목록에는 Huangshan Pi용으로 sf32lb52-lchspi-ulp가 명시되어 있습니다. 실제 보드 리비전을 기록하고 프로젝트의 빌드 구성을 확인하십시오.
• SiFli-SDK, SCons, 플래싱 경로, 시리얼 로그 캡처.
• 제어할 수 있는 2.4 GHz 소스, 또는 선택한 BLE 어드버타이저를 껐다 켜는 것과 같이 반복 가능한 장면 두 개 이상.
• 수치 정확도가 범위에 포함되는 경우, 보정된 스펙트럼 분석기 또는 전력 계측기와 고정된 안테나/거리/차폐 조건.
• 화면 상태, 시리얼 출력, 보드 방향, 거리, 전원, 환경에 대한 테스트 기록.

하드웨어 및 소프트웨어 사양¶

하드웨어 사양¶

소프트웨어 사양¶

지원되는 기준 구성 선택¶

움직이는 main 브랜치가 아니라 고정된 프로젝트 커밋 670cf20을 사용하십시오. 프로젝트 README에는 출력 디렉터리로 build_sf32lb52-lchspi-ulp_hcpu가 명시되어 있고, SiFli의 지원 보드 목록에는 Huangshan Pi / LCHSPI-ULP용으로 sf32lb52-lchspi-ulp가 명시되어 있습니다. 이것으로 확립되는 것은 SDK 보드 이름일 뿐, 정확한 프로젝트 명령이나 테스트된 보드 어셈블리가 아닙니다. README에는 보드 리비전이나 완전한 SCons 명령이 명시되어 있지 않으므로, 모든 SF32LB52x 보드가 지원된다고 가정하지 말고 첫 재현 단계에서 프로젝트 빌드 구성을 확인하십시오.

프로젝트 개발 단계와 의사결정 지점¶

시스템 아키텍처와 의존성¶

flowchart LR
    E["2.4 GHz 환경\n다수의 신호원"] --> A["안테나 및 RF 프런트 엔드\n보정 미확립"]
    A --> R["SF32LB52 Bluetooth 스캔 경로\n79포인트 샘플링"]
    R --> S["프로젝트 소스의 평활화\nRSSI 이력 링 버퍼"]
    S --> U["LVGL 막대 차트\n2402–2480 MHz"]
    K["KEY2\n짧게: 시작/중지, 길게: 이력"] --> S
    L["시리얼 로그 및 기준 계측기"] --> V["검증 기록"]
    R --> L
    U --> V

주요 장애 영역은 RF 입력/안테나, 스캔 동작과 보정, 데이터 처리, 이력 버퍼, 버튼 상태 머신, LVGL 매핑, 전원입니다. 막대 하나가 높다는 것은 구현이 상대적으로 강한 수신 값을 관측했다는 의미일 뿐이며, 제어된 비교가 없으면 송신기, 변조 방식, 규정 준수 상태를 식별하지 못합니다.

1단계 — 수정하지 않은 스캔 기준 구성 확립¶

목표: 선택한 하드웨어와 소스가 반복 가능한 79포인트 표시를 만들어 낸다는 것을 입증합니다.

1. 저장소와 SiFli-SDK 커밋, 보드 리비전, 안테나, 디스플레이 연결을 고정하고 클린 빌드와 플래싱을 수행하십시오.
2. RF 환경이 안정된 상태에서 디바이스를 시작하고 초기 차트, 시리얼 출력, KEY2 상태를 기록하십시오.
3. KEY2를 짧게 눌러 스캔을 시작하십시오. 커버리지와 2402, 2441, 2480 MHz의 X축 기준값을 확인하십시오.
4. 제어된 BLE 어드버타이저 또는 반복 가능한 다른 소스를 사용해 소스 꺼짐/켜짐, 거리, 보드 방향에 따른 변화를 기록하십시오.
5. 리셋한 뒤 반복하여 79포인트 배열과 차트가 어긋나거나 오래된 데이터가 남지 않는지 확인하십시오.

보관할 증거: 소스/SDK/보드 리비전, 빌드/플래싱 로그, 환경 설명, 소스 설정, 거리/방향, 시리얼 로그, 화면 캡처, 리셋 결과.

게이트 1 종료 기준: 독립적인 두 번의 부팅에서 79포인트를 스캔하고 표시합니다. 제어된 장면의 변화가 방향성 면에서 반복 가능합니다. 표시 인덱스와 주파수 레이블을 확인했습니다.

2단계 — 처리, 이력, 복구 검증¶

목표: UI가 우연한 애니메이션이 아니라 설명 가능한 데이터 경로를 나타낸다는 것을 입증합니다.

게이트 2 종료 기준: 평활화, 이력 깊이, 버튼 상태, 리셋 동작이 소스와 일치합니다. 비정상 상태가 조용히 묻히지 않고 관찰 가능합니다.

3단계 — 재현 가능한 소스 기준 구성 빌드¶

목표: 클린 환경에서 2단계의 이미지를 재현합니다.

1. 프로젝트 커밋, SDK 커밋, 호스트 OS, SCons/컴파일러 버전, 실제 보드 인자를 기록하십시오.
2. 빌드 출력을 삭제하고 다시 구성한 뒤 빌드하십시오. 이미지, 메모리/파티션 출력, 전체 로그를 저장하십시오.
3. 생성된 플래싱 스크립트로 플래시에 기록하고 포트, 보레이트, 결과를 기록하십시오.
4. 두 번째 컴퓨터 또는 클린 디렉터리에서 다시 수행하고 2단계의 핵심 검사를 반복하십시오.

게이트 3 종료 기준: 추적되지 않는 보드 파일, 생성된 파일, 오래된 산출물 없이 프로젝트가 동작이 동등한 이미지를 만들어 냅니다.

4단계 — 범위를 제한한 측정 또는 UI 적용 하나 수행¶

목표: 원래 기준 구성을 잃지 않고 제품 방향 하나를 테스트합니다.

후보 변경으로는 원시 값 로깅, 명시적인 1 MHz 레이블, 피크 홀드, 다른 이력 선택기, 보정 오프셋, 상대 추세의 호스트 내보내기 등이 있습니다. 한 번에 한 종류만 변경하고 원래 이미지를 보존하십시오.

보정을 추가한다면 기준 소스, 주파수, 입력 레벨, 안테나/케이블, 거리, 방향, 온도, 불확도를 정의하십시오. 전역 오프셋 하나로는 주파수 응답, 보드 편차, 인클로저 영향을 보상하기에 충분하지 않은 경우가 많습니다.

게이트 4 종료 기준: 변경이 원래의 79포인트, 시작/중지, 이력, 리셋, 제어된 소스 회귀 테스트를 통과합니다. 모든 정확도 서술에는 기준 계측기와 조건이 명시되어 있습니다.

5단계 — 제품 준비 상태 검토¶

팀은 다음 질문에 답해야 합니다.

• 제품에 필요한 것이 상대적인 간섭 추세뿐인가, 아니면 추적 가능한 절대 전력과 불확도인가?
• 프로젝트의 Bluetooth 스캔 구현이 대상 실리콘과 SDK에서 지원되는 것으로 문서화되어 있으며, 어떤 동시 동작 제한이 적용되는가?
• 안테나, 인클로저, 디스플레이 노이즈, DC/DC 동작, 배터리 잔량, 온도에 따라 결과가 얼마나 달라지는가?
• 제품이 스캔하는 동안 필요한 Bluetooth 통신을 유지할 수 있는가, 아니면 두 기능을 동시에 사용할 수 없게 해야 하는가?
• 소스로 검증한 평활화를 적용한 79포인트 스캔의 측정된 지연 시간이 UI 요구 사항을 충족하는가?
• RadiationMonitor와 포함된 코드에 명시적인 최상위 라이선스가 없는 경우, 배포와 상업적 권리를 어떻게 해결할 것인가?

게이트 5 종료 기준: 측정 목표, 보정 계획, 무선 동시 동작 전략, 라이선스, 하드웨어 및 소프트웨어 소유권에 지정된 담당자가 있고 진행/보류/중단 결정이 내려져 있습니다.

제품 설계로의 인계¶

대상 SF32 디바이스, 보드/안테나, 고정된 소스에서 확인한 Bluetooth 스캔 구현과 모드/API 제약, 주파수/데이터 정의, 원시 및 평활화 기록, UI 갱신 예산, 보정 고정구, 전원 노이즈 테스트, 복구 경로, 양산 테스트 경계를 이어서 가져가십시오. 이어서 SF32LB52x, SF32LB52-DevKit-ULP, SF32LB52x 하드웨어 설계 가이드, SiFli SDK RF 테스트 실행을 참조하십시오.

주요 정보 출처¶

• SiFliSparks/RadiationMonitor
• main의 업스트림 README
• 고정된 레퍼런스 커밋 670cf20
• SiFli Sparks 프로젝트 카탈로그
• OpenSiFli/SiFli-SDK
• SiFli-SDK 지원 보드
• SiFli-SDK RF 테스트 가이드
• SF32LB52x 하드웨어 개요
• SF32LB52x SiFli-SDK 퀵 스타트

최종 업데이트: 2026-10-19